• Ajuda
  • Epsilon 3XLE

    Espectrômetro de Fluorescência

    Espectrômetro de fluorescência de Raios X por energia dispersiva (EDXRF) de bancada Epsilon 3XLE para análise química elementar não destrutiva de C a Am utilizado no controle de processos industriais e em pesquisa e desenvolvimento.

    Fluorescência de Raios X por energia dispersiva (EDXRF) de bancada Epsilon 3XLE para análise química elementar não destrutiva de C a Am utilizado no controle de processos industriais e em pesquisa e desenvolvimento

    Este sistema possui um tubo cerâmico, capacidade de excitação de 50kV e 3mA, incluindo a mais recente tecnologia de detecção silicon drift.

    O Epsilon 3 XLE é capaz de analisar de forma rápida e precisa os materiais mais diversos, podendo ser líquidos, sólidos, pós soltos, vidros, metais, lamas, filtros, etc.

    Concentrações a níveis de PPM a 100% do elemento na amostra podem ser quantificados.