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  • Epsilon 3X

    Espectrômetro de Fluorescência

    Espectrômetro de fluorescência de Raios X por energia dispersiva (EDXRF) de bancada Epsilon 3X para análise química elementar não destrutiva de Na a Am utilizado no controle de processos industriais e em pesquisa e desenvolvimento.

    Para análise química elementar não destrutiva de Na a Am utilizado no controle de processos industriais e em pesquisa e desenvolvimento

    Este sistema possui um tubo cerâmico, capacidade de excitação de 50kV e 1mA, incluindo a mais recente tecnologia de detecção silicon drift.

    O Epsilon 3 X é capaz de analisar de forma rápida e precisa os materiais mais diversos, podendo ser líquidos, sólidos, pós soltos, vidros, metais, lamas, filtros, etc.
    Concentrações a níveis de PPM a 100% do elemento na amostra podem ser quantificados.