AFM expande os recursos 3D para uma faixa sub-nanométrica até um único angstrom, incluindo lateralmente, que não é alcançável com nenhuma técnica óptica.
Ao medir o comprimento de onda físico direto vinculado a uma altura específica, os perfilômetros NANOVEA fornecem precisão incomparável de medições de superfície em qualquer material.